Tartu ÜlikoolKaasik, Jaan, toimetaja2013-08-062013-08-061990Per.A-1169http://hdl.handle.net/10062/32165• J. Aarik. Atomic Layer Epitaxy • J. Lembre, L. Salliov. On One Model of the Electron Beam Evaporation • J. Lembre, L Selliov. On the Distribution of the Thickness of the Layer in Vacuum Deposition From the Small Area Cosine Source Inclined to the Substrate • J. Aarik. On the Mechanism of Film Formation by Ale From Compound Sources (I) • J. Aarik, A. Aidla, A. Jaak, A.-A. Kiisler. On the Mechanism of Film Formation by Ale From Compound Sources (II) • J. Aarik, A. Aidla, A. Jaak, A.-A. Kiisler, A. A. Tammik. Properties of Amorphous Al2O3 Films Grown by Ale • В. П. Васильченко, Л.Л. Катиэен, А.К. Каск Выбор оптимальной толщины активного слоя тонкопленочнйих электролюминесцентных индикаторов • В.Е. Родионов, М.Я. Рахлин, A.A. Золотовский. Моделирование люминесценции иона тулия в сульфиде цинка • В.П. Васильченко, М.Я. Рахлин, В.Е. Родионов, Т.Г. Соколова. Получение диэлектрических слоев Ga2O3 химическим пиролитическим методом и их электрические свойства • A.И. Вольневич, В.В. Новиков, B.Е. Родионов, Ю.С. Тимошенко. Прогнозирование внезапных отказов тонкопленочного злектролюминесцентного индикатора с использованием моделирования пробоя его структурыenjätkväljaandedTartu Ülikoolelektroluminestsentsõhukesed kiledartiklikogumikudProceedings on electroluminescence. XVIII, Preparation and investigation of thin solid filmsBook