Silikaatide analüüsimine ATR-FT-IR spektroskoopilisel meetodil
Date
2016
Authors
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Tartu Ülikool
Abstract
Paljud silikaatsed mineraalid on oma koostiselt väga sarnased ja seetõttu on nende määratlemine seguproovides keeruline. Levinud meetod silikaatide analüüsimisel on XRD (röntgendifraktsioonanalüüs), kuid amorfsete faaside esinemisel aines on analüüsi tulemused ebausaldusväärsed. Antud töös mõõdeti 37 ühekomponentse silikaatse mineraali ja 50 mitmekomponentse seguproovi ATR-FT-IR spektrid, nii kesk- kui kauginfrapuna alas. Uuriti meetodi võimekust silikaatsete ainete määratlemisel, klassifitseerimisel, ja kvantiseerimisel. Teostati puhaste silikaatsete ainete ATR-FT-IR spektrite interpreteerimine. Klassifitseerimisel kasutati diskriminantanalüüsil baseeruvat peakomponentide analüüsi (PCA). Kvantitatiivne analüüs viidi läbi kasutades osaliste vähimruutude meetodit (PLS). PLS meetod loodi kasutades erinevate protsentuaalsete koostistega seguproovide spektraalset ning protsentuaalset infot, milledest viimane saadi XRD mõõtmistest. Uuringu tulemused näitavad, et ATR-FT-IR meetod annab rahuldavaid tulemusi nii kristalliliste, kui ka amorfsete silikaatide määramisel, klassifitseerimisel ja poolkvantitatiivsel analüüsil. ATR-FT-IR meetod on võrreldes XRD meetodiga on kiirem, lihtsam ja nõuab väiksemat proovikogust. Kõik töös registreeritud ATR-FT-IR spektrid tehti kättesaadavaks töögrupi loodud veebipõhises andmebaasis.
Description
Keywords
silikaatsed mineraalid, ATR-FT-IR, XRD, PCA, diskriminantanalüüs, PLS