Spektraalse reflektomeetria kasutamine optilise kiu kaitsekihi paksuse määramiseks
dc.contributor.advisor | Lukner, Heli, juhendaja | |
dc.contributor.advisor | Valdma, Sandhra-Mirella, juhendaja | |
dc.contributor.author | Reinkubjas, Karl | |
dc.contributor.other | Tartu Ülikool. Loodus- ja täppisteaduste valdkond | et |
dc.contributor.other | Tartu Ülikool. Füüsika instituut | et |
dc.date.accessioned | 2017-08-07T08:24:27Z | |
dc.date.available | 2017-08-07T08:24:27Z | |
dc.date.issued | 2017 | |
dc.description.uri | http://www.ester.ee/record=b4683654*est | et |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10062/57444 | |
dc.language.iso | est | et |
dc.publisher | Tartu Ülikool | et |
dc.subject.other | bakalaureusetööd | et |
dc.subject.other | kiudoptika | et |
dc.subject.other | kiudoptika | et |
dc.title | Spektraalse reflektomeetria kasutamine optilise kiu kaitsekihi paksuse määramiseks | et |
dc.type | Thesis | en |