Mõõteseade nanotehnoloogial põhinevate katete karakteriseerimiseks kosmoses

Abstract

Eesti keeles: Käesolevas uurimistöös disainiti ja konstrueeriti seadme prototüüp, millega oleks võimalik viia läbi ekperiment tudengisatelliidil Estcube-2, kus mõõdetakse nanotehnoloogial põhineva kattega ja katteta alusmaterjalide elektrilist takistust. Töö käigus valiti katse eesmärgi täitmiseks vajaliku seadme jaoks komponendid ja disainiti trükkplaat. Seade konstrueeriti ja viidi läbi mõõtmised, mis olid heas kooskõlas paralleelselt mõõdetud täppismultimeetri tulemustega. In English: The goal of this thesis was to design and construct a prototype of a device, that could be used in an experiment to measure the electrical resistance of materials, which are coated using nanotechnology-based coatings on the student satellite Estcube-2. The suitable components for achieving the goal were chosen and a PCB was designed. The device was assembled and used to make test measurements. The resistances measured with the assembled system were consistent with the control measurements made with a precision multimeter.