Spectroskopic ellipsometry as a versatile tool to study thin films grown by atomic layer deposition

Failid

roland_hoxha_mooteteadus_mag14.pdf (4.82 MB)

Kuupäev

2014

Autorid

Ajakirja pealkiri

Ajakirja ISSN

Köite pealkiri

Kirjastaja

Tartu Ülikool

Abstrakt

Kirjeldus

Märksõnad

Viide

URI

http://hdl.handle.net/10062/43373

Kollektsioonid

Rakendusliku mõõteteaduse õppekava magistritööd – Master's theses